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產(chǎn)品中心

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Semiconductor discrete device 半導(dǎo)體分立器件試驗設(shè)備 Passive component test equipment 被動元件試驗設(shè)備 Monitoring system 設(shè)備集中監(jiān)視系統(tǒng) Internet of things platform 物聯(lián)網(wǎng)平臺 test equipment 試驗設(shè)備

半導(dǎo)體分立器件試驗設(shè)備

內(nèi)容建設(shè)中......

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鉭電容器高溫老化系統(tǒng)

適用于各種封裝形式的鉭電容器、電解電容器、獨石電容器、云母電容器、陶瓷電容器、紙介電容器、薄膜電容器和金屬化紙介電容器（包括SMT表面貼裝）等器件的工作壽命試驗和高溫老煉篩選。

LED高溫老化系統(tǒng)

系統(tǒng)能滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可調(diào)三端穩(wěn)壓器老化篩選和壽命試驗。

熱阻測試系統(tǒng)

適用各種封裝外形的二極管、三極管、整流橋、SCR、MOSFET、IGBT的K系數(shù)測試和熱阻測試。

分立器件綜合老化試驗系統(tǒng)

適用于各種封裝（包括表面貼裝）形式的中、小功率二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅、集成穩(wěn)壓器、光電耦合器、電阻等元器件的穩(wěn)態(tài)壽命試驗（CFOL）和間歇壽命試驗（IFOL）和功率老煉篩選。

電容脈沖放電測試系統(tǒng)

可適用于各種外形的車用二極管進行電容放電脈沖沖擊試驗。

服務(wù)熱線

0571-8585 6333

聯(lián)系郵箱：[email protected]

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