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GK-ECBS-F8分立器件綜合老化試驗系統(tǒng)
適用于各種封裝（包括表面貼裝）形式的中、小功率二極管、三極管、場效應管、可控硅、集成穩(wěn)壓器、光電耦合器、電阻等元器件的穩(wěn)態(tài)壽命試驗（CFOL）和間歇壽命試驗（IFOL）和功率老煉篩選。
技術特點：
①一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗參數(shù)的器件同時老化。
②被試器件DUT老化電源采用智能程控方式供給，極性自動轉換；
③數(shù)據(jù)庫加載導入，自動完成試驗過程，方便操作使用。
④完善、標準的老化器件庫及各種老化板，解決了用戶的后顧之憂。
heating
高溫加熱
內部加熱 保持不壞
真金不怕火煉，超強耐高溫
超級耐高溫
保持高品質
內部加熱原理
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